更新時間:2022-04-08
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廠商性質:生產廠家
生產地址:
品牌 | 豪恩 | 分類 | 高低溫試驗箱 |
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一、芯片高低溫老化試驗箱可程式定義說明
可程式是針對定值試而言的,可程式高低溫試驗箱的具體表現(xiàn)為,可對試驗程序進行編程,以便在試驗的進程中,通過編程的控制,來對試驗進行自動化運作。
比如:客戶是做LED背光源的,需要進行的試驗程序為,80℃高溫條件下進行8個小時的試驗,-40℃的低溫環(huán)境下進行4個小時的試驗,再進行90℃的高溫環(huán)境下進行4個小時的試驗,要滿足上述的多項試驗要求,而且是在不間斷的情況下進行試驗,就可在試驗運行開始之前,在高低溫試驗箱的控制器上進行試驗程序編程,高低溫試驗箱會根據試驗程序,進行精確的試驗。
二、芯片高低溫老化試驗箱性能:
指氣冷式在室溫20℃,空載時
規(guī)格型號:HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000(A、B、C、D、E)
容量:
80升內箱尺寸(寬*高*深):400X500X400mm
150升內箱尺寸(寬*高*深):500X600X500mm
225升內箱尺寸(寬*高*深):600X750X500mm
408升內箱尺寸(寬*高*深):600X850X800mm
800升內箱尺寸(寬*高*深):1000X1000X800mm
1000升內箱尺寸(寬*高*深):1000X1000X1000mm
溫度范圍:
A表示:0℃~+150℃,B表示:-20℃~+150℃,C表示:-40℃~+150℃,
D表示:-60℃~+150℃,E表示:-70℃~+150℃
溫度精度:±0.01℃
溫度波動度:±0.5℃
溫度均勻度:±2.0℃
濕度范圍:20%RH~98%RH
濕度精度:±0.1%R.H
濕度波動度:±2.0%R.H.
濕度均勻度:±3%R.H.
升溫速率:平均3℃/min(非線性、空載時;從常溫+25℃升至+85℃約20min);可按要求定制非標規(guī)格
降溫速度:平均1℃/min(非線性、空載時;從常溫+25℃降至-40℃約65min);可按要求定制非標規(guī)格
三、使用注意事項:
1.在操作當中,除非有必要,請不要打開箱門,否則可能導致不良的后果。
2.請注意本機必須安全確實接地,以免產生靜電感應。
3.避免于五分鐘內關閉再開啟冷凍機組。
4.如果箱內放置發(fā)熱試品時,試品電源控制請使用外加電源,不要直接使用本機電源。放入高溫試料作低溫試驗時應注意:開啟箱門的時間要盡可能的短。
5.電路斷路器、超溫保護器,提供本機測試品以及操作者的安全保護,故請定期檢查。
6.禁止試驗爆炸性,可燃性及高腐蝕性物質。
7.照明燈除必要時打開外,其余時間應關閉。
8.在做低溫前,應將工作室擦干,60℃時烘干1小時。
9.做高溫試驗時,當溫度超過55℃以上的情況下,切忌不可開啟冷機。
10.請詳細閱讀說明書,方可操作本機。
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